Простийпошук |
Розширенийпошук |
Покажчики
|
Професійний пошук |
Рубрикатор НБУВ |
Розподілений пошук |
Бази даних
Наукова періодика України - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
| Знайдено в інших БД: | Книжкові видання та компакт-диски (1) | Журнали та продовжувані видання (1) | Реферативна база даних (4) |
Список видань за алфавітом назв: Авторський покажчик Покажчик назв публікацій  |
Пошуковий запит: (<.>A=Матяш И$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 2 Представлено документи з 1 до 2 |
|||
| 1. | 
Матяш И. Е. Модуляционная поляриметрия поверхностного плазмонного резонанса как сред-ство детектирования диэлектрических свойств газов [Електронний ресурс] / И. Е. Матяш // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 2014. - Вып. 49. - С. 82-87. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/ont_2014_49_13 Исследовано изменение диэлектрических свойств газов, находящихся в контакте с наноразмерной пленкой металла, в зависимости от внешнего воздействия. Измерения проведены с использованием метода модуляционной поляриметрии, основанного на регистрации явления поверхностного плазмон-поляритонного резонанса. Определены коэффициенты пропорциональности изменения показателей преломления газов (азот, воздух, гелий) с давлением при медленном изменении последнего. Выявлено, что величина приращения показателя преломления, полученная при быстром изменении давления, коррелирует со значениями эффективных радиусов молекул газов и газовых смесей. | ||
| 2. | 
Максименко Л. С. Модуляционная поляриметрия полного внутреннего отражения, нарушенного алмазоподобными пленками [Електронний ресурс] / Л. С. Максименко, О. Н. Мищук, И. Е. Матяш, Б. К. Сердега, Е. Г. Костин, Б. П. Полозов, О. А. Федорович, Г. К. Савинков // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. - 2013. - № 1. - С. 3-8. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/TKEA_2013_1_2 Исследованы алмазоподобные пленки, специально приготовленные при различных технологических условиях. Введен параметр ρ, называемый поляризационной разностью. Из спектральных характеристик параметра ρ обнаружено, что взаимодействие электромагнитного излучения с электронной системой образцов, которое происходит в используемом спектральном диапазоне, состоит из двух поверхностных резонансов - локального и поляритонного, различающихся частотой и временем релаксации. Сделан вывод о том, что соотношение амплитуд резонансов определяется структурными свойствами образцов, что свидетельствуют о перспективности метода модуляционной поляриметрии для диагностики структурной однородности композитных нанокластерных пленок.Досліджено алмазоподібні плівки, спеціально приготовлені за різних технологічних умов. Запропоновано параметр ρ, що названий поляризаційною різницею. Зі спектральних характеристик параметра ρ виявлено, що взаємодія електромагнітного випромінювання з електронною системою зразків, яке відбувається у використовуваному спектральному діапазоні, складається з двох поверхневих резонансів - локального та поляритонного, що різняться частотою та часом релаксації. Зроблено висновок, що співвідношення амплітуд резонансу визначається структурними властивостями зразків, що свідчить про перспективність методу модуляційної поляриметрії для діагностики структурної однорідності композитних нанокластерних плівок.This article presents research results on diamond-like films produced under different technological conditions. The parameter ρ - polarization difference - has been introduced. It has been found from spectral features of the parameter ρ that the interaction of electromagnetic radiation with the electronic system of specimens, which occurs in the used spectral range, consists of local and polariton surface resonances, differing in frequencies and times of relaxations. The autors concluded that the correlation in resonance intensity is defined by the structural characteristics of the specimens. These results show that modulation polarimetry is a perspective technique for diagnostics of the structural homogeneity of composite nanocluster films. | ||
Попередній перегляд: 
Реферативна БД
 |
| Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів |
 Пам`ятка користувача |